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一种闪存芯片可靠性检测的检测方法及检测装置

基本信息

申请号	CN202010808124.8	申请日	-
公开（公告）号	CN114077509A	公开（公告）日	2022-02-22
申请公布号	CN114077509A	申请公布日	2022-02-22
分类号	G06F11/00（2006.01）I;G06F8/61（2018.01）I;G11C29/44（2006.01）I	分类	计算；推算；计数;
发明人	吴耀虎;黄衍军;吴大畏;李晓强;韩国军	申请（专利权）人	得一微电子股份有限公司
代理机构	-	代理人	-
地址	518000广东省深圳市南山区粤海街道科技园南十二路18号长虹科技大厦6楼09-2、10-11单元
法律状态	-

摘要

本申请涉及一种闪存芯片可靠性检测的检测方法及检测装置，属于固态存储检测技术领域，其包括以下步骤：将闪存芯片安装到测试架中；使用MPTool烧录RDT代码到闪存芯片中；将成功烧录RDT代码的闪存芯片连同测试架一起插到高温箱中的供电接口上；给SATA供电接口通电，使得SATA芯片的BOOT从闪存芯片中加载RDT代码到SATA芯片的RAM中；SATA芯片加载完成后开始进入RDT脱机扫描流程；SATA芯片对闪存芯片进行扫描，找出闪存芯片中的坏块并生成坏块信息；SATA芯片通过分析坏块信息来计算出闪存芯片的颗粒品质并对闪存芯片颗粒品质等级进行划分；SATA芯片通过驱动提示单元提示对应的闪存芯片颗粒品质等级。本申请具有提高产品的生产效率的效果。