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一种用于光学特性参数测试的LED外延结构

基本信息

申请号	CN201320387474.7	申请日	-
公开（公告）号	CN203351640U	公开（公告）日	2013-12-18
申请公布号	CN203351640U	申请公布日	2013-12-18
分类号	H01L33/04(2010.01)I;H01L33/36(2010.01)I	分类	基本电气元件;
发明人	梁秉文	申请（专利权）人	光垒光电科技（上海）有限公司
代理机构	深圳市铭粤知识产权代理有限公司	代理人	杨林;马翠平
地址	200050 上海市长宁区延安西路889号1106B室
法律状态	-

摘要

本实用新型公开一种用于光学特性参数测试的LED外延结构，其包括在衬底上依次形成的缓冲层、第一半导体层、量子阱层、第二半导体层，在第二半导体层上设有第一透明导电层，LED外延结构中设有封闭的隔离槽，隔离槽环绕部分LED外延结构，形成测试岛，测试岛作为测试区域；其中，隔离槽至少贯穿第一透明导电层、第二半导体层和量子阱层，并且隔离槽位于缓冲层之上。另外，在第一透明导电层上还设有第二透明导电层，第二透明导电层向测试岛周围延伸而形成延伸部，该延伸部用于放置接触电极。本实用新型的用于光学特性参数测试的LED外延结构，将测试区域面积固定，并且将接触电极与测试岛的接触面积固定，在测试过程中提高了测试的精度以及准确度。