集中式分光测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202110821291.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113634501B | 公开（公告）日 | 2022-03-11 |
| 申请公布号 | CN113634501B | 申请公布日 | 2022-03-11 |
| 分类号 | B07C5/02（2006.01）I;B07C5/342（2006.01）I;B07C5/38（2006.01）I;B65G45/12（2006.01）I | 分类 | 将固体从固体中分离；分选; |
| 发明人 | 段雄斌;张利利;曹亮;何选民 | 申请（专利权）人 | 深圳市标谱半导体股份有限公司 |
| 代理机构 | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 徐汉华 |
| 地址 | 518000广东省深圳市宝安区航城街道三围社区内环路同富裕工业园茶树A栋1层、2层、3层、5层、7层、8层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请提供了一种集中式分光测试装置，包括多台分光机和集中收料机构；集中收料机构包括带传送线，以及存料筒；带传送线包括传送带、从动轮、主动轮和旋转驱动器，传送带上形成有送料槽，各分光机排送同一类别的LED芯片的下料管与送料槽相连通。本申请，通过设置带传送线，并在带传送线的传送带上形成送料槽，将各分光机的排送同一类别的LED芯片的下料管与送料槽相连通，以使多个分光机将分选的同一类别的LED芯片排送到送料槽，以被传送带传送至存料筒存储，从而可以实现多台分光机分选的同一类别的LED芯片的集中收取，从而可以减少人工，降低人工成本，并且在收取分选的LED芯片时，分光机无需停止，提升效率。 |
