Pcie芯片运行状态监测系统及其监测方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

Pcie芯片运行状态监测系统及其监测方法

基本信息

申请号	CN202110351321.6	申请日	-
公开（公告）号	CN113220512A	公开（公告）日	2021-08-06
申请公布号	CN113220512A	申请公布日	2021-08-06
分类号	G06F11/22（2006.01）I;G06F11/26（2006.01）I;G06F11/273（2006.01）I	分类	计算；推算；计数;
发明人	沈大圣	申请（专利权）人	无锡芯领域微电子有限公司
代理机构	连云港联创专利代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	刘刚
地址	214000江苏省无锡市滨湖区建筑西路777号A3幢6层615，616室
法律状态	-

摘要

本发明涉及芯片技术领域，且公开了Pcie芯片运行状态监测系统及其监测方法，包括底座，所述底座的顶部安装有热风机，所述侧板的外侧安装有PLC控制器，所述侧板的内侧安装有温度传感器，所述侧板的内侧安装有理线板，所述理线板的表面均匀开设有理线孔，所述侧板的一侧设置有透明防护罩，所述侧板的内侧对称开设有滑槽，所述透明防护罩的一侧设置有滑块，所述透明防护罩的底部设置有限位块，所述底座的顶部开设有限位孔。该Pcie芯片运行状态监测系统及其监测方法，通过设置理线孔、温度传感器、透明防护罩和热风机，使得本发明具有理线功能和温度模拟测试功能，有效提高接线速率与准确性，方便在不同温度的情况下测试Pcie芯片的运行状态，提高测试可靠性。