一种电控光取样系统、方法及太赫兹时域光谱仪
基本信息
| 申请号 | CN201610812095.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106323469B | 公开（公告）日 | 2019-05-03 |
| 申请公布号 | CN106323469B | 申请公布日 | 2019-05-03 |
| 分类号 | G01J3/433（2006.01）I; G01J3/06（2006.01）I; G01J3/42（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 彭世昌; 潘奕; 李辰; 丁庆 | 申请（专利权）人 | 深圳市太赫兹系统设备有限公司 |
| 代理机构 | 深圳中一专利商标事务所 | 代理人 | 张全文 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋430室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明适用于太赫兹技术领域，提供一种电控光取样系统、方法及太赫兹时域光谱仪，其中，电控光取样系统包括第一飞秒脉冲激光器、第二飞秒脉冲激光器、第一分束器、第二分束器、第一光电传感器、第二光电传感器、相位探测器、函数发生器、加法器和PID调节器；第一分束器通过光纤与第一飞秒脉冲激光器连接，第二分束器通过光纤与第二飞秒脉冲激光器连接，第二飞秒脉冲激光器包括压电传感器，第一光电传感器和第二光电传感器均与相位探测器连接，相位探测器、函数发生器和PID调节器均与加法器连接，PID调节器还与压电传感器连接。本发明通过采用电控光取样系统来实现时域扫描，可有效保证光束传播方向的稳定、色散小、扫描速度快。 |
