一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法
基本信息
| 申请号 | CN201910912443.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110579458A | 公开（公告）日 | 2019-12-17 |
| 申请公布号 | CN110579458A | 申请公布日 | 2019-12-17 |
| 分类号 | G01N21/64（2006.01）; G01J3/44（2006.01） | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 薛占强; 郭翠; 潘奕 | 申请（专利权）人 | 深圳市太赫兹系统设备有限公司 |
| 代理机构 | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司; 深圳市太赫兹系统设备有限公司 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明属于荧光光谱技术测试领域，尤其涉及一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法。荧光光谱的测试装置，用于获取待测材料的荧光光谱，其特征在于，荧光光谱的测试装置包括：激发结构，包括激发光源以及角度调节机构，激发光源用于生成预设波长的激发光束，激发光束以预设的入射角度入射待测材料表面，角度调节机构用于调节入射角度的值；旋转结构，用于固定待测材料，并根据用户输入的控制指令对待测材料和激发光源进行同步旋转；以及检测结构，用于接收待测材料生成的受激光束，并根据受激光束得到对应的荧光光谱。本发明通过分析在不同旋转角度下测得的荧光光谱，最终得到待测材料的角度分布特性。 |
