带有片内实时校准的高精度电流采样电路
基本信息
| 申请号 | CN202110520954.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113252949B | 公开（公告）日 | 2021-11-05 |
| 申请公布号 | CN113252949B | 申请公布日 | 2021-11-05 |
| 分类号 | G01R1/20（2006.01）I;G01R1/30（2006.01）I;G01R1/36（2006.01）I;G01R35/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 齐伟;王乃龙 | 申请（专利权）人 | 北京芯格诺微电子有限公司 |
| 代理机构 | 北京智宇正信知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 李明卓 |
| 地址 | 100190北京市海淀区知春路1号学院国际大厦18层1801 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明实施例公开了一种带有片内实时校准的电流采样电路，所述电流采样电路用于对驱动晶体管的导通电流进行检测，其特征在于，该电流采样电路包括第一电阻、第二电阻、电压采样电路、采样电压运算电路和导通电阻校准电路；所述电压采样电路用于获取驱动晶体管的导通压降值Vds；所述导通电阻校准电路包括一标准电流源和一校准晶体管；所述校准晶体管的导通电阻值设置成驱动晶体管的导通电阻值的K1倍；所述电压采样电路获取的驱动晶体管的导通压降值Vds与所述校准晶体管的导通压降值Vrsns被输入采样电压运算电路，从而获得导通压降值Vds与导通压降值Vrsns的比例关系K2；当标准电流源的电流值为Iref时，驱动晶体管的导通电流Ids为：Ids＝K1×K2×Iref。 |
