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一种基于天线阵面标校的测高精度提高技术

基本信息

申请号 CN202111443200.0 申请日 -
公开（公告）号 CN114167369A 公开（公告）日 2022-03-11
申请公布号 CN114167369A 申请公布日 2022-03-11
分类号 G01S7/40（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 周健洋;官林海;陈帅;乐意;秦志乐 申请（专利权）人 南京国睿防务系统有限公司
代理机构 南京知识律师事务所 代理人 刘丰;高娇阳
地址 210019江苏省南京市建邺区江东中路359号国睿大厦1号楼A区14楼1401室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种基于天线阵面标校的测高精度提高技术，采用经纬仪、静态水平仪和动态水平仪；经纬仪标校真实水平度，通过使用经纬仪标校出的真实水平度，将结构误差修正在静态水平仪的数据中，动态水平仪安装在阵面上，采用经纬仪标校动态水平仪的系统误差。本发明的经纬仪用于标校真实水平度利用经纬仪的标校真值来修正静态水平仪和动态水平仪的测量值，可将静态水平仪和动态水平仪的系统误差修正到很小的水平，使其水平度精度提高，从而有效提高雷达的测高精度。