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半桥电路性能测试系统及方法

基本信息

申请号	CN202110631861.X	申请日	-
公开（公告）号	CN113295989A	公开（公告）日	2021-08-24
申请公布号	CN113295989A	申请公布日	2021-08-24
分类号	G01R31/3163（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	李祥;周建宇;黄少海;党代表	申请（专利权）人	苏州市运泰利自动化设备有限公司
代理机构	广州市越秀区哲力专利商标事务所（普通合伙）	代理人	王忠浩
地址	215000江苏省苏州市太湖国家旅游度假区光福镇福利村102号
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种半桥电路性能测试系统，包括用于接入信号的信号输入单元、继电器矩阵单元、用于测试半桥电路输出波形峰值的峰值测试单元、频率测试单元、功率电阻切换单元、网口通信单元、用于建立并联电路的功率电阻、控制端，继电器矩阵单元分别与信号输入单元、峰值测试单元、频率测试单元、功率电阻切换单元、网口通信单元连接，功率电阻切换单元根据半桥电路上MOS管或下MOS管的电阻的导通状态，控制功率电阻与上MOS管或下MOS管并联。在半桥电路工作时，根据半桥电路上MOS管或下MOS管的电阻的导通状态，采用功率电阻、峰值测试单元、频率测试单元的协调运作进行MOS管的导通电阻的测量，提高了测试效率，解决了工作时无法测量MOS管的问题。