低电压电容测试系统及方法
基本信息
| 申请号 | CN202110668154.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113391192A | 公开（公告）日 | 2021-09-14 |
| 申请公布号 | CN113391192A | 申请公布日 | 2021-09-14 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R27/26（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李祥;周建宇;黄少海;党代表 | 申请（专利权）人 | 苏州市运泰利自动化设备有限公司 |
| 代理机构 | 广州市越秀区哲力专利商标事务所（普通合伙） | 代理人 | 王忠浩 |
| 地址 | 215000江苏省苏州市太湖国家旅游度假区光福镇福利村102号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种低电压电容测试方法，控制端元设定电路导通临界值，检测电路导通临界值是否符合要求，若是，执行下一步，若否，重新设定；微型恒流充电单元对待测电容进行充电；电压检测单元测量待测电容上的电压值，生成电容电压数据，频率检测单元测量待测电容上的电压值，生成频率数据；电压放大单元对电容电压数据进行放大并生成电压放大数据；控制单元根据电压放大数据、频率数据进行待测试电容的数据推算。采用所述恒流放电单元、微型恒流充电单元配合进行电容检测，可以在IC内部电路不导通的情况下进行电容检测，同时不会影响电容充电，增加了测量的准确性，解决了电容值测试不准确的问题。本发明还公开了一种低电压电容测试系统。 |
