一种便于集成电路自动测试装置

基本信息

申请号 CN202022120250.2 申请日 -
公开(公告)号 CN212845785U 公开(公告)日 2021-03-30
申请公布号 CN212845785U 申请公布日 2021-03-30
分类号 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 夏宇 申请(专利权)人 泓准达电子科技(常州)有限公司
代理机构 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 代理人 尚欣
地址 213100江苏省常州市武进国家高新技术产业开发区西湖路8号津通国际工业园1号楼C区
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种便于集成电路自动测试装置,属于集成检测技术领域,包括底座,所述底座上方安装有箱体,所述底座内部安装有滑槽。使用时,先拉动L型固定杆在滑槽上移动来带动支撑杆移动,然后把箱体放到底座上,接着推动支撑杆到合适位置后,接着通过转动旋转轴带动卡杆卡主底座一侧,然后通过转动螺纹杆在螺纹槽内侧壁上移动来顶住箱体,接着通过转动螺帽对螺纹杆进行固定,当机器长时间使用时,内部温度会慢慢变高,过高温度会导致机器内部零部件造成损坏,维修麻烦,成本高,当温度过高时,电机带动转动轴转动,转动轴带动转动杆转动,转动杆带动扇叶转动,扇叶转动对箱体内部吹风和通过散热窗与外界空气换气,加快散热效果。