一种芯片电容器检测设备
基本信息
| 申请号 | CN202010779185.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112007868A | 公开（公告）日 | 2020-12-01 |
| 申请公布号 | CN112007868A | 申请公布日 | 2020-12-01 |
| 分类号 | B07C5/02(2006.01)I | 分类 | 将固体从固体中分离；分选; |
| 发明人 | 吴浩;谢华;车瑞飞;辛广兴;陈松磨 | 申请（专利权）人 | 广州创天电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市道臻知识产权代理有限公司 | 代理人 | 朱亚 |
| 地址 | 510000广东省广州市黄埔区来安一街8号之一 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明属于芯片电容器测试领域，具体涉及一种芯片电容器检测设备，包括用于芯片电容器上料的上料装置，用于检测芯片电容器电性能的电性能检测装置，用于收纳电性能不良品的电性能不良品料盘，用于测试芯片电容器外观的外观检测装置，用于收纳传送检测合格的芯片电容器的合格品下料装置，用于收纳外观不良品的外观不良料盘，用于吸附抓取芯片电容器，并转动变换芯片电容器的工位的转盘传送装置；其中，上料装置、电性能检测装置、电性能不良品料盘、外观检测装置、合格品下料装置、外观不良料盘成圆形依次排列在转盘传送装置的外侧。 |
