商标进度

商标申请

初审公告

已注册

4

终止

商标详情

商标
商标名称 图形 商标状态 商标已注册
申请日期 2014-12-01 申请/注册号 15830426
国际分类 42类-网站服务 是否共有商标
申请人名称(中文) 武汉光谷卓越科技股份有限公司 申请人名称(英文) -
申请人地址(中文) 湖北省武汉市东湖开发区武汉大学科技园 申请人地址(英文) -
商标类型 商标注册申请---等待注册证发文 商标形式 -
初审公告期号 1477 初审公告日期 2015-10-27
注册公告期号 15830426 注册公告日期 2016-01-28
优先权日期 - 代理/办理机构 武汉中商联合知识产权代理有限公司
国际注册日 - 后期指定日期 -
专用权期限 2016-01-28-2026-01-27
商标公告 -
商品/服务
技术研究(4209)
替他人研究和开发新产品(4209)
科学实验室服务(4209)
科学研究(4209)
质量检测(4209)
测量(4210)
土地测量(4210)
校准(测量)(4210)
计算机硬件设计和开发咨询(4220)
信息技术咨询服务(4220)
商标流程
2014-12-01

商标注册申请---申请收文

2015-03-03

商标注册申请---等待受理通知书发文

2015-03-03

商标注册申请---受理通知书发文

2016-05-05

商标注册申请---等待注册证发文

2016-05-05

商标注册申请---注册证发文