一种磁阻器件测试装置
基本信息
| 申请号 | CN201721752244.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN207502612U | 公开（公告）日 | 2018-06-15 |
| 申请公布号 | CN207502612U | 申请公布日 | 2018-06-15 |
| 分类号 | G01R27/08 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 郑律 | 申请（专利权）人 | 江苏森尼克电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 苏州创元专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 江苏森尼克电子科技有限公司;浙江森尼克半导体有限公司 |
| 地址 | 215634 江苏省苏州市张家港保税区新兴产业育成中心4栋253A室(森尼克) | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种磁阻器件测试装置，其可以方便准确地测试磁阻器件的参数，从而有效地提高生产线上磁阻器件的测试效率。一种磁阻器件测试装置，包括：载流导体，所述载流导体通有交流电以产生测试磁场；第一电机，用于驱动所述载流导体在待测磁阻器件上方移动以对所述待测磁阻器件进行扫描；测试仪，用于测量待测磁阻器件两端的电压值。所述载流导体为金属丝。还包括：叶片，用于模拟施加给所述待测磁阻器件的压电噪声；第二电机，用于驱动所述叶片旋转。 |
