半导体单层薄膜反射干涉型光纤温度探头及其传感装置
基本信息
申请号 | CN201010240389.9 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN101936786B | 公开(公告)日 | 2013-02-13 |
申请公布号 | CN101936786B | 申请公布日 | 2013-02-13 |
分类号 | G01K11/32(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 黎敏;李玉林 | 申请(专利权)人 | 武汉精昱光传感系统研究院有限公司 |
代理机构 | 武汉宇晨专利事务所 | 代理人 | 黎敏;武汉精昱光电科技有限公司 |
地址 | 430071 湖北省武汉市武昌区小洪山西区77-6-12号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种半导体单层薄膜反射干涉型光纤温度探头及其传感装置,涉及一种温度传感器。本探头是:在光纤(1)的一端面(12)上镀有单层的半导体薄膜(13)。本传感装置是:光源(20)的输出端与光分路器(30)的输入端连接;光分路器(30)的输出端与光纤温度探头(10)连接,光分路器(30)的返回端与光探测器(40)连接,光探测器(40)、后续处理电路(50)和微处理器(60)前后依次连接。本发明结构更简单,探头更小只有0.1毫米,更方便安装,适用范围更广;成本更低廉,对光源波长没有特殊要求;系统易于补偿,测温分辨率高;适用于电力、化工、生物医疗等特殊场所的温度实时在线监测。 |
