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三温芯片测试设备

基本信息

申请号 CN202130519921.X 申请日 -
公开（公告）号 CN307148583S 公开（公告）日 2022-03-08
申请公布号 CN307148583S 申请公布日 2022-03-08
分类号 10-05 （13） 分类 -
发明人 周志军;徐同德 申请（专利权）人 崧智智能科技（苏州）有限公司
代理机构 苏州新知行知识产权代理事务所（特殊普通合伙） 代理人 陈勐哲
地址 215000江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道88号人工智能产业园E3-101
法律状态 -

摘要

摘要 1.本外观设计产品的名称：三温芯片测试设备。2.本外观设计产品的用途：用于芯片不同温度下的性能测试。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状与图案的结合。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。