一种新型的红外光学材料微观缺陷检测装置
基本信息
| 申请号 | CN202022233997.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212964658U | 公开（公告）日 | 2021-04-13 |
| 申请公布号 | CN212964658U | 申请公布日 | 2021-04-13 |
| 分类号 | G02B21/24(2006.01)I;G02B21/36(2006.01)I;G01N21/95(2006.01)I;G01N21/84(2006.01)I;G02B21/06(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 郝丽娜 | 申请（专利权）人 | 天津一华永道科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京化育知识产权代理有限公司 | 代理人 | 涂琪顺 |
| 地址 | 300000天津市河北区光复道街瑞海大厦1-1-2016 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供一种新型的红外光学材料微观缺陷检测装置，包括底板，红外光源，旋转放置架结构，锁紧架结构，支撑柱，套管，调节螺栓，支撑杆，便拆安装架结构，安装管，限位环，远红外线微镜头，安装螺栓，远红外探测器和卡槽，所述的红外光源嵌入在底板的上部；所述的旋转放置架结构安装在底板的上部左侧；所述的锁紧架结构设置在底板的左侧；所述的支撑柱焊接在底板的上部右侧；所述的套管套接在支撑柱的外侧上部。本实用新型的有益效果为：通过轴承、旋转轴和透明置物板的设置，有利于方便对被测物体进行旋转，使其可以放置多个被测物体，并对检测物品进行顺序检测，减少对被测物体的取放时间。 |
