一种半导体陶瓷电容器击穿电压的测试夹具
基本信息
| 申请号 | CN202021115471.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212459936U | 公开（公告）日 | 2021-02-02 |
| 申请公布号 | CN212459936U | 申请公布日 | 2021-02-02 |
| 分类号 | G01R31/16(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 蒋小明 | 申请（专利权）人 | 陕西华星电子开发有限公司 |
| 代理机构 | 西安泛想力专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 石琳丹 |
| 地址 | 712034陕西省西安市西咸新区秦汉新城周陵新兴产业园区天工一路东段10号-3 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种半导体陶瓷电容器击穿电压的测试夹具，属于电子陶瓷技术领域。该测试夹具包括：多个测试针、导电板、固定板和波段开关；固定板连接在导电板上；测试针均活动连接在固定板上；测试针均通过连接导线与波段开关的不同档位连接。在本实用新型中，设置多个测试针、导电板、固定板和波段开关，将多个半导体陶瓷电容器银片夹在不同的测试针与导电板之间，通过击穿电压测试仪可以一次测试多个产品，并且也可以检测不带引线的半导体陶瓷电容器银片，从而提高了检测效率。 |
