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太阳能多晶硅电池片表面缺陷与沾污检测设备

基本信息

申请号 CN201210110124.6 申请日 -
公开（公告）号 CN103376255A 公开（公告）日 2013-10-30
申请公布号 CN103376255A 申请公布日 2013-10-30
分类号 G01N21/88(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 杨广;赵润川;权炳浩;廖国伟;丁正雍;陈利平;李波 申请（专利权）人 苏州中导光电设备有限公司
代理机构 昆山四方专利事务所 代理人 苏州中导光电设备有限公司
地址 215311 江苏省苏州市昆山市巴城镇临港工业园瑞安路8号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种太阳能多晶硅电池片表面缺陷与沾污检测设备，照明室固定于机架上，照明室内设有光源，照明室的内壁上设有一层漫反射材料制成的涂层，传送机构能够传送待检测产品到照明室内光源形成的均匀光照区域，照明室上方的顶壁设有与待检测产品位置正对的通光孔，所述成像装置位于通光孔正上方的机架上，成像装置能够将图片信息传信给处理器，本发明通过照明室将光源的光线漫反射，使得投射在太阳能多晶硅电池片上的光斑亮度均匀性和角度均匀性非常高，进而消除了晶粒噪声干扰，提高了太阳能多晶硅电池片表面检测精度。