基质辅助激光解析电离飞行时间质谱仪的离子推斥方法
基本信息
| 申请号 | CN201710485039.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN107331597A | 公开（公告）日 | 2019-01-01 |
| 申请公布号 | CN107331597A | 申请公布日 | 2019-01-01 |
| 分类号 | H01J49/06;H01J49/40 | 分类 | 基本电气元件; |
| 发明人 | 林志敏;周晓辉;凌晓群;施继坚;肖鸿辉;孟寒玉 | 申请（专利权）人 | 江苏天瑞仪器股份有限公司福建分公司 |
| 代理机构 | 厦门南强之路专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 马应森 |
| 地址 | 400000 重庆市大渡口区建桥工业园C区太康路6号30栋第1-4层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 基质辅助激光解析电离飞行时间质谱仪的离子推斥方法，涉及飞行时间质谱仪。提供可使基质离子在到达检测器之前被电场偏转出去，以实现检测器仅接收样品离子，延长检测器的使用寿命，同时增加仪器信噪比的基质辅助激光解析电离飞行时间质谱仪的离子推斥方法。在飞行时间质量分析器无场区设置偏转电极组；检测并同步激光脉冲信号，将所述激光脉冲信号展宽；将所述激光脉冲信号展宽进行放大，转换为同步高压脉冲，并施加于偏转电极组上；基质小分子在到达检测器前，受脉冲电场作用发生偏转无法到达检测器，而样品大分子在脉冲作用时间后经过偏转电极，不受电场影响正常检测。 |
