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一种岩石样本的磨平抛光夹具及岩石样本制样方法

基本信息

申请号 CN202010307511.3 申请日 -
公开（公告）号 CN111421397B 公开（公告）日 2022-05-31
申请公布号 CN111421397B 申请公布日 2022-05-31
分类号 B24B1/00（2006.01）I;B24B41/06（2012.01）I;B28D1/22（2006.01）I;G01N1/28（2006.01）I;G01N1/32（2006.01）I 分类 磨削；抛光;
发明人 郭唯明;王登红;曹殿华;孙艳 申请（专利权）人 中国地质科学院矿产资源研究所
代理机构 北京恒律知识产权代理有限公司 代理人 -
地址 100032北京市西城区百万庄大街26号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种岩石样本的磨平抛光夹具及岩石样本制样方法，属于岩石样本制样技术领域，解决现有方法工作量大、工作时间长、工作效率低的问题。岩石样本的磨平抛光夹具包括：样本卡盘、上挡板和下挡板；样本卡盘可拆卸的固定在上挡板和下挡板之间；样本卡盘旋转对称，且沿周向均布多个卡槽；卡槽填充有热塑树脂。本发明的制样方法通过采用热塑树脂使得所有岩石样本的待研磨抛光面能够近似处于同一平面上，从而减少工作时时间和工作量，提高磨平抛光的工作效率。