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一种兼容多种规格光模块老化测试的装置

基本信息

申请号 CN202022273187.6 申请日 -
公开（公告）号 CN213544704U 公开（公告）日 2021-06-25
申请公布号 CN213544704U 申请公布日 2021-06-25
分类号 G01R31/00（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 张润泽;黄庆;陈硕;王光辉;张绍友 申请（专利权）人 成都市德科立菁锐光电子技术有限公司
代理机构 北京市领专知识产权代理有限公司 代理人 张玲
地址 610000四川省成都市高新区（西区）天虹路5号3栋4层1号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种兼容多种规格光模块老化测试的装置，包括测试板，还包括若干类型子测试板，所述测试板设有若干组主板数据接口；所述若干类型子测试板中任意一个类型的子测试板的一端设有子板数据接口，另一端设有光模块数据接口；所述若干类型子测试板中任意两个不同类型的子测试板的光模块数据接口不同；所述若干类型子测试板中任意一个类型的子测试板的子板数据接口与测试板的若干组主板数据接口中任意一组主板数据接口相连接，光模块数据接口用于与需测试的相匹配的光模块连接。其有益效果是：采用一个装置，实现对多种规格的光模块测试，降低生产研发成本，提高生产效率。