一种应用于光谱仪器的二级和高级衍射光谱的消除方法

基本信息

申请号 CN201710277584.0 申请日 -
公开(公告)号 CN106969835B 公开(公告)日 2018-09-28
申请公布号 CN106969835B 申请公布日 2018-09-28
分类号 G01J3/28 分类 测量;测试;
发明人 隋成华;陈晓明;汪飞 申请(专利权)人 杭州博源光电科技有限公司
代理机构 杭州天勤知识产权代理有限公司 代理人 杭州博源光电科技有限公司
地址 311422 浙江省杭州市富阳区银湖街道富闲路15号银湖科技园50幢101室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种应用于光谱仪器的二级和高级衍射光谱的消除方法,包括如下步骤:1)根据探测器尺寸和光谱仪器的光谱范围设计滤光片尺寸,并对滤光片进行分区镀膜。2)将滤光片贴在探测器表面,并测出不同积分时间下的钨灯光源光谱,对光谱凹陷处进行补偿,与原光谱进行对比,获得修正数据。3)将修正数据烧入光谱仪器下位机EEPROM。通过滤光片和下位机修正获得了一种成本极低的二级和高级衍射光谱消除方法,可以广泛应用于光栅色散型光谱仪器中。