校正X-ray探测器中的探测通道的方法
基本信息
申请号 | CN201810997124.X | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN109211946B | 公开(公告)日 | 2021-08-27 |
申请公布号 | CN109211946B | 申请公布日 | 2021-08-27 |
分类号 | G01N23/046(2018.01)I;G01T7/00(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 奚道明;吴杰;陈瑞;刘苇;曾晨;张鹏飞;谢庆国 | 申请(专利权)人 | 苏州瑞迈斯医疗科技有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 215163江苏省苏州市高新区锦峰路8号17号楼北楼201-1室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本申请公开了一种校正X‑ray探测器中的探测通道的方法,其包括:S1,运算放大器向比较器的第一输入端提供基准信号,控制器控制比较器的第二输入端的电压,并且计数器记录比较器在不同的电压下输出的信号的跳变次数;S2,处理器计算每个探测通道所对应的所有跳变次数当中的按顺序记录的跳变次数两两之间的差值,并且根据差值来计算探测通道的响应电压;S3,处理器根据响应电压和光信号的能量峰值来计算探测通道的校正系数,并且根据校正系数来计算探测通道校正后的响应电压。通过本申请提供的方法,可以利用X‑ray探测器的内部器件来采集探测通道输出的电信号并计算校正后的响应电压,而不需要额外的器件来采集电信号,因而降低了硬件开销和成本。 |
