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一种棒状高反射率零件表面缺陷检测方法

基本信息

申请号 CN201610905045.2 申请日 -
公开（公告）号 CN106353340B 公开（公告）日 2019-07-16
申请公布号 CN106353340B 申请公布日 2019-07-16
分类号 G01N21/952 分类 测量；测试;
发明人 王磊;段子爽 申请（专利权）人 厦门威芯泰科技有限公司
代理机构 北京联瑞联丰知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 厦门威芯泰科技有限公司
地址 361008 福建省厦门市软件园二期观日路32号303室11区
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提出一种棒状高反射率零件表面缺陷检测方法，涉及表面缺陷检测技术领域，检测步骤如下：1)开启主光源照明，采集得到待检零件第一图像；2)保持第一光源开启状态并同时打开第二光源，采集得到待检零件第二图像；3)对通过步骤1)采集得到的第一图像进行处理，分割提取出待检零件的棒状区域并确定检测区域；4)在通过步骤3)提取得到的棒状区域中对于通过步骤2)采集获得的第二图像进行图像处理，分析检测其表面质量。本发明能够克服棒状高反射率零件表面不均匀的反光造成的机器视觉检测障碍，算法简单，检测高效，可实现对棒状高反射率零件表面的多种不良缺陷的精确检测。