一种绕过定制片上系统芯片进行存储芯片flash读写的测试方法
基本信息
申请号 | CN202010716342.9 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113971982A | 公开(公告)日 | 2022-01-25 |
申请公布号 | CN113971982A | 申请公布日 | 2022-01-25 |
分类号 | G11C29/36(2006.01)I;G11C29/38(2006.01)I;G11C29/56(2006.01)I | 分类 | 信息存储; |
发明人 | 方文栋;刘会军;曾琦波;饶金桥 | 申请(专利权)人 | 广州航新电子有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 510000广东省广州市广州市经济技术开发区科学城光宝路1号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供一种绕过定制片上系统芯片进行存储芯片flash的读写测试方法,通过计算机的并口发送多组特定的二进制序列码到JTAG口的数据线TDI,借助示波器我们可以通过JTAG口的数据线TDO上观察到的码流推算出JTAG接口的指令长度、数据长度以及最高传输速度;然后我们将需要读写测试的flash芯片规格型号对应的操作指令按JTAG接口的特征参数转换为对应的二进制序列码,最后加载到计算机的并口卡;并口卡会自动匹配JTAG接口的电平并按照顺序将序列码移入片上系统芯片的引脚,同时自动隔离片上系统芯片的内部控制逻辑电路,最终准确无误地将二进制序列码传送到flash芯片的控制总线,实现对flash存储芯片的全自动读写测试。 |
