一种ID芯片检验装置

基本信息

申请号 CN202121856846.7 申请日 -
公开(公告)号 CN215494995U 公开(公告)日 2022-01-11
申请公布号 CN215494995U 申请公布日 2022-01-11
分类号 G06F11/22(2006.01)I 分类 计算;推算;计数;
发明人 张哲豪;丁莽;冯宇;马骁萧 申请(专利权)人 精微视达医疗科技(苏州)有限公司
代理机构 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人 田书亚
地址 436000湖北省鄂州市梁子湖区梧桐湖新区凤凰大道特一号三楼
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种ID芯片检验装置,属于芯片测试技术领域,本实用新型的ID芯片检验装置包括箱体和顶板,箱体包括至少一个侧面和一个底面,箱体的侧面设置有通讯接口;顶板与箱体可拆卸连接,顶板上设置有ID芯片插座,ID芯片插座包括设有芯片卡槽的底座;箱体和顶板合围成一个容置腔,ID芯片插座位于容置腔外侧,容置腔内设置有评估系统电路板,评估系统电路板通过连接器与ID芯片插座电连接;评估系统电路板与通讯接口电连接。该方案系统集成度高,箱体对评估系统电路板起到很好的保护作用;操作方式单一、便于生产人员操作,且ID芯片配合上位机软件使得检验结果更直观,与阻抗量测法相比较,不良品筛选率更高。