一种多结太阳电池隐性缺陷无损测试方法及系统
基本信息
申请号 | CN201910359894.6 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN110324003A | 公开(公告)日 | 2019-10-11 |
申请公布号 | CN110324003A | 申请公布日 | 2019-10-11 |
分类号 | H02S50/15 | 分类 | 发电、变电或配电; |
发明人 | 彭云峰;丁叶飞;黄川 | 申请(专利权)人 | 上海道口智能科技有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 200092 上海市杨浦区铁岭路32号608-5室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供一种多结太阳电池隐性红外缺陷无损测试方法,针对被测多结太阳电池中各子电池的材料类型,选择对应的激光光源;激光光源发出的激光均照射在被测多结太阳电池上,被测多结太阳电池在激光照射下,各子电池分别激发出对应一定波长的光信号,这些光信号均在分别滤光后由红外传感器接收,并分别转换为电信号;控制系统接收所述的电信号,通过各激光光源的频率作为锁相信号放大的输入参数,提取各子电池的红外缺陷分布图。本发明利用不同子电池在不同激光下激发的光信号不同的特点,快速、非接触地测试出多结太阳电池中,每个子电池上分布的隐性缺陷。 |
