一种激光二极管芯片光电属性检测装置
基本信息
| 申请号 | CN201821700128.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN209055636U | 公开（公告）日 | 2019-07-02 |
| 申请公布号 | CN209055636U | 申请公布日 | 2019-07-02 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 朱干军; 张家尧 | 申请（专利权）人 | 义乌臻格科技有限公司 |
| 代理机构 | 合肥市上嘉专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 叶洋军;郭华俊 |
| 地址 | 322009 浙江省金华市义乌市苏溪镇苏福路219号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种激光二极管芯片光电属性检测装置，包括一维升降机构、夹具、和条带探针，其中，所述夹具固连至一维升降机构，用于夹持弧形的条带探针，其中，所述条带探针自身呈弧形或弯曲成弧形，以与激光二极管脊顶面电极的延伸方向正交的方式，水平下降至与脊顶面电极的金电极图层接触的位置，由条带探针的弯曲形变提供接触压力。本实用新型以条带型的探针去替代传统的探针，去提供激光二极管光电属性检测过程所需要的电流(电压)，由于下针方式和接触面积的改变，对检测设备的位置精准度降低了要求，保护了激光二极管上的电极垫，延长了探针的使用寿命。从设备、耗材、以及制程工艺上降低了成本。 |
