一种半导体集成电路测试装置
基本信息
申请号 | CN202121959106.6 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN216051804U | 公开(公告)日 | 2022-03-15 |
申请公布号 | CN216051804U | 申请公布日 | 2022-03-15 |
分类号 | G01R1/02(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 周静 | 申请(专利权)人 | 青岛展诚科技有限公司 |
代理机构 | 北京盛凡佳华专利代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 靳桂琳 |
地址 | 266071山东省青岛市市南区山东路39号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型涉及电子的技术领域,特别是涉及一种半导体集成电路测试装置,其实现了测试自动化,提高了工作效率,降低了人工成本;包括输送流水线、支撑板、连接板、第一支柱、第二滑块、第一活塞、第一气缸、测试组件、第一齿轮、第二齿轮、电机、电机支板、第二气缸、第二活塞和盖子,两组支撑板均位于输送流水线右部下方,两组支撑板通过多组连接板前后连接,多组第一支柱顶端分别与两组支撑板底端连接,两组支撑板顶端均设置有第一滑槽,两组第二滑块底端分别与两组第一滑槽滑动连接,两组第一活塞右端分别与两组第二滑块左端连接,两组第一活塞左部输入端分别与两组第一气缸右部输出端连接。 |
