一种半导体集成电路测试装置

基本信息

申请号 CN202121959106.6 申请日 -
公开(公告)号 CN216051804U 公开(公告)日 2022-03-15
申请公布号 CN216051804U 申请公布日 2022-03-15
分类号 G01R1/02(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 周静 申请(专利权)人 青岛展诚科技有限公司
代理机构 北京盛凡佳华专利代理事务所(普通合伙) 代理人 靳桂琳
地址 266071山东省青岛市市南区山东路39号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及电子的技术领域,特别是涉及一种半导体集成电路测试装置,其实现了测试自动化,提高了工作效率,降低了人工成本;包括输送流水线、支撑板、连接板、第一支柱、第二滑块、第一活塞、第一气缸、测试组件、第一齿轮、第二齿轮、电机、电机支板、第二气缸、第二活塞和盖子,两组支撑板均位于输送流水线右部下方,两组支撑板通过多组连接板前后连接,多组第一支柱顶端分别与两组支撑板底端连接,两组支撑板顶端均设置有第一滑槽,两组第二滑块底端分别与两组第一滑槽滑动连接,两组第一活塞右端分别与两组第二滑块左端连接,两组第一活塞左部输入端分别与两组第一气缸右部输出端连接。