分布式集成电路测试系统
基本信息
| 申请号 | CN202120372763.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215005735U | 公开（公告）日 | 2021-12-03 |
| 申请公布号 | CN215005735U | 申请公布日 | 2021-12-03 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 叶剑文 | 申请（专利权）人 | 杭州友旺电子有限公司 |
| 代理机构 | 上海思捷知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王宏婧 |
| 地址 | 310012浙江省杭州市西湖区黄姑山路4号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供了一种分布式集成电路测试系统，包括至少两块测试板卡，每块所述测试板卡上集成有一控制模块、一测试单元模块和一电源模块，每个所述控制模块通过以太网与一上位机连接，每块所述测试板卡上的所述控制模块与对应的所述电源模块和所述测试单元模块连接，所述测试单元模块与待测集成电路连接，各个所述测试板卡上的所述电源模块之间相互独立。本实用新型的技术方案能够在对集成电路测试系统进行扩展的同时，还能节约测试成本和测试空间以及能够避免产生共地干扰的问题。 |
