Per-Pin结构VXI总线测试系统时间沿校准模块
基本信息
| 申请号 | CN201822002648.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN209014973U | 公开（公告）日 | 2019-06-21 |
| 申请公布号 | CN209014973U | 申请公布日 | 2019-06-21 |
| 分类号 | G05B23/02（2006.01）I | 分类 | 控制；调节; |
| 发明人 | 李杰 | 申请（专利权）人 | 北京自动测试技术研究所有限公司 |
| 代理机构 | 北京汲智翼成知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 北京自动测试技术研究所 |
| 地址 | 100088 北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦A座9层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种Per‑Pin结构VXI总线测试系统时间沿校准模块。该时间沿校准模块包括设置在印刷电路板上的主控制器、配置存储器、继电器矩阵和时间测量模块；主控制器一方面连接Per‑Pin结构VXI总线测试系统，另一方面分别连接配置存储器、继电器矩阵和时间测量模块；继电器矩阵一方面连接Per‑Pin结构VXI总线测试系统，另一方面连接时间测量模块。本时间沿校准模块可以与各种Per‑Pin结构VXI总线测试系统相互配合，自动完成相关测试系统的时间沿校准工作。 |
