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一种片上系统芯片的测试方法及系统

基本信息

申请号	CN201911401980.5	申请日	-
公开（公告）号	CN111025134A	公开（公告）日	2020-04-17
申请公布号	CN111025134A	申请公布日	2020-04-17
分类号	G01R31/3185;G01R31/3183	分类	测量；测试;
发明人	蒋常斌	申请（专利权）人	北京自动测试技术研究所有限公司
代理机构	北京汲智翼成知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	北京自动测试技术研究所
地址	100088 北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦A座9层
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种片上系统芯片的测试方法及系统。该方法对基于高速串行链路连接的第一适配器和第二适配器，进行诊断和校准；诊断校准完成后，通过第一适配器逐个获得每个待测片上系统芯片的测试激励矢量和期望矢量，并基于高速串行链路将测试激励矢量压缩打包后传输到第二适配器，得到某个待测片上系统芯片的测试激励矢量；对得到的测试激励矢量进行校验，如果校验通过，则将测试激励矢量相应地传输至对应的待测片上系统芯片的输入引脚，以完成测试。该方法用高速串行传输媒介代替传统的测试电缆，并且对测试激励矢量串行化后压缩并加入校验机制，使得测试激励矢量到待测片上系统芯片的输入引脚映射不仅是完全可编程的，而且还保证测试结果的准确性。