一种集成电路测试系统的数字测试模块
基本信息
| 申请号 | CN201922309521.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212031657U | 公开（公告）日 | 2020-11-27 |
| 申请公布号 | CN212031657U | 申请公布日 | 2020-11-27 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李杰 | 申请（专利权）人 | 北京自动测试技术研究所有限公司 |
| 代理机构 | 北京汲智翼成知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 北京自动测试技术研究所 |
| 地址 | 100088北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦A座9层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种集成电路测试系统的数字测试模块。该测试模块包括芯片转接卡座、光耦矩阵、测试系统接口和电阻电容矩阵，光耦矩阵一方面连接测试系统接口和芯片转接卡座，另一方面连接电阻电容矩阵。该测试模块可以实现根据不同待测芯片的测试规范，自动控制光耦矩阵搭建测试回路，以实现与集成电路测试系统相互配合，自动完成对待测芯片的测试任务。并且，本测试模块配置灵活，操作方便。 |
