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一种循环冗余校验方法、设备及存储介质

基本信息

申请号	CN201711472801.8	申请日	-
公开（公告）号	CN108233944A	公开（公告）日	2018-06-29
申请公布号	CN108233944A	申请公布日	2018-06-29
分类号	H03M13/09	分类	基本电子电路;
发明人	高剑;冯建科;郭士瑞;袁科学;蒋常斌;李杰;阎伟	申请（专利权）人	北京自动测试技术研究所有限公司
代理机构	北京汲智翼成知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	北京自动测试技术研究所
地址	100088 北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦A座9层
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种循环冗余校验方法、设备及存储介质。其中，该循环冗余校验方法包括如下步骤：将第一校验码CSAi‑1和第二校验码CSBi‑1作为数据序列Pi的初值与数据序列构成输入数据序列；分别进行CRC第一校验模式和CRC第二校验模式的校验，得到第一校验码CSAi和第二校验码CSBi，将第一校验码CSAi与上一个数据序列Pi‑1的第二校验码CSBi‑1连接到一起构成新数据序列；对构成的新数据序列再进行CRC第一校验模式的校验，得出数据序列Pi的校验码；计数器的数值逐一增加，重复上述步骤，直至所有传输的数据序列全部校验完成，得到所有数据序列的校验码。该方法避免了传统CRC32异或运算的信息丢失，在不增加资源消耗的基础上，提高了校验的准确性。