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一种集成电路测试系统的运放测试模块

基本信息

申请号 CN201922309507.6 申请日 -
公开（公告）号 CN212031656U 公开（公告）日 2020-11-27
申请公布号 CN212031656U 申请公布日 2020-11-27
分类号 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 李杰 申请（专利权）人 北京自动测试技术研究所有限公司
代理机构 北京汲智翼成知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 北京自动测试技术研究所
地址 100088北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦A座9层
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种集成电路测试系统的运放测试模块。该测试模块包括芯片转接卡座、辅助运放测试回路、光耦矩阵和测试系统接口，光耦矩阵一方面连接芯片转接卡座和测试系统接口，另一方面连接辅助运放测试回路。该测试模块与集成电路测试系统相互配合，实现自动控制光耦矩阵将待测运放芯片接入到辅助运放测试回路中，并按照待测运放芯片的测试规范，控制辅助运放测试回路实现对待测运放芯片的测试任务。此外，本运放测试模块配置灵活，操作方便。