Per-Pin结构VXI总线测试系统PMU校准模块
基本信息
| 申请号 | CN201822002599.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN209014972U | 公开（公告）日 | 2019-06-21 |
| 申请公布号 | CN209014972U | 申请公布日 | 2019-06-21 |
| 分类号 | G05B23/02（2006.01）I | 分类 | 控制；调节; |
| 发明人 | 李杰 | 申请（专利权）人 | 北京自动测试技术研究所有限公司 |
| 代理机构 | 北京汲智翼成知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 北京自动测试技术研究所 |
| 地址 | 100088 北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦A座9层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种Per‑Pin结构VXI总线测试系统PMU校准模块。该PMU校准模块包括设置在印刷电路板上的主控制器、配置存储器、光耦矩阵和精密电阻矩阵。通过主控制器控制光耦矩阵逐个从每组的多个精密测量单元同步获取电压或电流，将所获取的电压或电流同步发送给精密电阻矩阵，并通过所选取的基准源测量多个精密测量单元的实际电压值或电流值，利用电压与电流的线性特性，得到每个精密测量单元各档位对应的电压和电流的校准系数。因此，本PMU校准模块可以与各种Per‑Pin结构VXI总线测试系统相互配合，自动完成该VXI总线测试系统的精密测量单元高速校准，配置灵活，操作方便。 |
