一种分区寻址dTOF测距系统
基本信息
| 申请号 | CN202111661777.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114415198A | 公开（公告）日 | 2022-04-29 |
| 申请公布号 | CN114415198A | 申请公布日 | 2022-04-29 |
| 分类号 | G01S17/10（2020.01）I;G01S17/894（2020.01）I;G01S7/4863（2020.01）I;G01S7/484（2006.01）I;G06T1/60（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈驰;李安;张莉萍 | 申请（专利权）人 | 深圳市安思疆科技有限公司 |
| 代理机构 | 杭州天勤知识产权代理有限公司 | 代理人 | 米志鹏 |
| 地址 | 518000广东省深圳市南山区西丽街道松坪山社区朗山路13号南门西侧清华信息港科研楼1层109-10室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开一种分区寻址dTOF测距系统，包括：分区可寻址光源，内包含N个光源分区，N≥2；成像芯片，内有SPAD像素阵列，所述SPAD像素阵列分为N个像素分区，N≥2；存储器，内存储有所述光源分区与像素分区之间的映射表关系；光源启动控制器，根据所述的映射表关系，控制光源分区和与之对应的像素分区同时启动。本发明采用使用可寻址的光源激，光投射器光源进行分区，同一时间只启动一个或多个区域的激光发光点以及与发光点对应的SPAD工作像素阵列，使用多个SPAD像素构成宏像素，以宏像素作为激光探测的基本单元，且不同宏像素之间的TDC可以复用，降低成像的噪声，提高信噪比，降低了电路设计复杂度，降低功耗的同时，也降低了设计成本和芯片面积。 |
