电子元件检测方法及设备和计算机可读存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202010045781.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111260819B | 公开（公告）日 | 2021-06-25 |
| 申请公布号 | CN111260819B | 申请公布日 | 2021-06-25 |
| 分类号 | G07C3/14;G06K17/00;G06Q10/06;G06Q50/06 | 分类 | 核算装置; |
| 发明人 | 刘博;潘磊;雷利军 | 申请（专利权）人 | 深圳市蓝眼科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳中细软知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈媛 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市宝安区新安街道留仙二路鸿辉工业园2号厂房601A | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明实施例公开了一种电子元件检测方法，应用于电子元件检测装置，其连接至少一个测试装置，每个测试装置包括至少一个测试探针；该方法包括：获取待测料带的标识信息；根据标识信息获取待测电子元件的待测规格信息；选择至少一个待测电子元件为第一待测样品，驱动与待测规格信息匹配的测试装置运动至第一待测样品上方；驱动该测试装置的至少一个测试探针穿透封装膜与第一待测样品电性接触；根据待测规格信息调整测试装置的测试参数，以对第一待测样品进行测试；基于对第一待测样品的测试结果，判断是否将待测料带投入生产。本发明还公开了电子元件检测装置和计算机可读存储介质。本发明能有效提升测试效率，降低测试难度，降低品管风险。 |
