SON结构及其制备方法

基本信息

申请号 CN202011589458.7 申请日 -
公开(公告)号 CN112701128A 公开(公告)日 2021-04-23
申请公布号 CN112701128A 申请公布日 2021-04-23
分类号 H01L27/12;H01L21/762 分类 基本电气元件;
发明人 张洋;徐德辉;荆二荣 申请(专利权)人 上海烨映微电子科技股份有限公司
代理机构 上海光华专利事务所(普通合伙) 代理人 佟婷婷
地址 201800 上海市嘉定区菊园新区胜竹路1399号2幢2层236室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种SON结构及其制备方法,制备方法包括:提供第一半导体衬底;在第一半导体衬底上形成中间氧化层;在中间氧化层中制备包括第一沟槽、第二沟槽和呈环形的第三沟槽的沟槽组合结构,第二沟槽与第一沟槽连通且包括延伸至中间氧化层端部的单元行;在第二半导体衬底中形成缺陷层;将第二半导体衬底与中间氧化层键合;自缺陷层处剥离第二半导体衬底。本发明提供一种非真空制备SON的方法,在氧化工艺形成的中间氧化层中制备沟槽组合结构,通过第一沟槽、第二沟槽以及第三沟槽的组合,相当于空腔结构中窗口图形通过条状沟槽与圆环沟槽相连,并且有一定数量的条状沟槽延伸到硅片边缘,使其与外部空气联通,保证内外压强一致,同时解决了空洞内的气体受热膨胀和真空导致机械强度问题。