一种FPGA中LUT6的编程测试方法
基本信息
| 申请号 | CN202111282589.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113985262A | 公开（公告）日 | 2022-01-28 |
| 申请公布号 | CN113985262A | 申请公布日 | 2022-01-28 |
| 分类号 | G01R31/3177（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘铮;张超 | 申请（专利权）人 | 山东芯慧微电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 南京行高知识产权代理有限公司 | 代理人 | 李晓 |
| 地址 | 250102山东省济南市历城区高新区港兴三路北段济南药谷双创基地3号楼1719 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种FPGA中LUT6的编程测试方法，属于现场可编程门阵列（中的LUT6的测试技术领域。该方法执行如下步骤：1）LUT6逻辑资源功能设计；2）LUT6输入向量设计；3）确定测试程序变量N；4）通过编程自动生成LUT6测试程序；5）将自动生成的LUT6测试程序通过编程自动移植到LUT6测试工具中；6）进行测试仿真；7）将LUT6测试程序写入FPGA中并进行数据读取；8）比对仿真数据与FPGA中的读取数据；9）确定测试结果。本发明全覆盖LUT6模块，提高了测试效率；采用在线编程的方式，解决了传统的测试多次例化Verilog的问题。 |
