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一种自动测试验证装置

基本信息

申请号 CN202021726194.0 申请日 -
公开（公告）号 CN213042666U 公开（公告）日 2021-04-23
申请公布号 CN213042666U 申请公布日 2021-04-23
分类号 G11C29/56 分类 信息存储;
发明人 袁家龙 申请（专利权）人 聚辰半导体股份有限公司
代理机构 上海元好知识产权代理有限公司 代理人 张妍;章丽娟
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区松涛路647弄12号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种自动测试验证装置，包括上位机、MCU模块、FPGA模块和测试模块；MCU模块的第一输入端与上位机的输出端连接；FPGA模块的输入端与MCU模块的第一输出端连接；测试模块内部放置待测芯片，且测试模块的第一输入端与FPGA模块的输出端连接，第二输入端与MCU模块的第二输出端连接，输出端与MCU模块的第二输入端连接；MCU模块的第三输出端与上位机的输入端连接。此实用新型解决了传统测试技术存在测试效率低，操作困难的问题，通过设置上位机自动编码测试脚本，实现了自动化的高效测试，保证了测试的产品质量和开发进度，方便了试验可操作性。