用于芯片测试的超级平整度PCB制作方法及PCB

基本信息

申请号 CN202111043025.6 申请日 -
公开(公告)号 CN113923894A 公开(公告)日 2022-01-11
申请公布号 CN113923894A 申请公布日 2022-01-11
分类号 H05K3/46(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I 分类 其他类目不包含的电技术;
发明人 贺吉;刘湘龙;林楚涛;孟若林;黄贵福 申请(专利权)人 广州兴森快捷电路科技有限公司
代理机构 广州嘉权专利商标事务所有限公司 代理人 廖慧贤
地址 510663广东省广州市广州高新技术产业开发区科学城光谱中路33号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种用于芯片测试的超级平整度PCB制作方法及PCB,属于PCB制作技术领域。本发明的PCB制作方法包括获取PCB的原始材料,其中,原始材料包括上层板、下层板、第一铜基板、第二铜基板、至少一个芯板、至少两个半固化板;在第一铜基板的一侧放置第一光板层,在第二铜基板的一侧放置第二光板层;根据预设的第一压合叠层,将第一铜基板、第二铜基板、至少一个芯板和至少两个半固化板进行压合,得到第一内层板;对第一内层板进行蚀刻和研磨处理,得到第二内层板;根据预设的第二压合叠层,将第二内层板、上层板、下层板进行压合,得到多层板;对多层板进行标准化处理,得到最终的PCB。这种PCB制作方法能够使得PCB满足平整度的要求。