一种基于高精准ADC芯片的自动化测试系统
基本信息
申请号 | CN202022981485.0 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN213990642U | 公开(公告)日 | 2021-08-17 |
申请公布号 | CN213990642U | 申请公布日 | 2021-08-17 |
分类号 | H03M1/10(2006.01)I | 分类 | 基本电子电路; |
发明人 | 余淋 | 申请(专利权)人 | 杭州恒芯微电子科技有限公司 |
代理机构 | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人 | 林超 |
地址 | 311121浙江省杭州市余杭区仓前街道文一西路1500号6号楼5单元901B-1室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型公开了一种基于高精准ADC芯片的自动化测试系统。包括测试载板、测试母板和测试机台,测试母板插在测试载板上;并口信号接口和信号隔离电路电连接;主控MCU模块连接控制测试母板的不同模块和电路,测试机台的控制端与测试载板的并口信号接口电连接进行信号的交互,测试机台的测试端与测试载板的野口座电路电连接,测试母板与测试载板的野口座电路电连接,测试载板的信号隔离电路与测试母板的主控MCU模块电连接。本实用新型能够对ADC芯片进行多项测试,并有实时的数据跟踪;不同模块可以实时切换电源达到芯片测试要求,能够及时切断电路,防止被测芯片被强电压损坏,具有抗干扰能力强、兼容多种型号ADC芯片、快速响应的特点。 |
