一种日照分析微区划分方法、装置及其设备
基本信息
| 申请号 | CN201910384823.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110109196B | 公开（公告）日 | 2021-07-30 |
| 申请公布号 | CN110109196B | 申请公布日 | 2021-07-30 |
| 分类号 | G01W1/12（2006.01）I;G06F30/13（2020.01）I;G06F111/04（2020.01）N | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 丁伟;刘从丰 | 申请（专利权）人 | 洛阳众智软件科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 韩国强 |
| 地址 | 471000河南省洛阳市洛阳高新开发区丰华路1号连飞大厦3幢13、14、15层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种日照分析微区划分方法、装置及其设备，该方法包括：确定进行日照分析的预设日照时间段的时间切片向量组；计算时间切片向量组对应的待日照分析建筑的建筑阴影范围；根据建筑阴影范围构建建筑阴影线组链表；基于建筑阴影线组链表构造日照分析微区；根据日照分析微区进行日照分析。采用上述方法或装置或设备能够根据特定的日照约束条件，准确计算出建筑模型在指定时间区间段的日光照射范围，提高日照分析准确度。 |
