一种光路中自带可通断红光的插回损检测装置

基本信息

申请号 CN201910394807.0 申请日 -
公开(公告)号 CN110095257A 公开(公告)日 2021-06-25
申请公布号 CN110095257A 申请公布日 2021-06-25
分类号 G01M11/00;H04B10/073 分类 测量;测试;
发明人 崔怀军;刘富成 申请(专利权)人 上海嘉慧光电子技术有限公司
代理机构 北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人 王新爱
地址 201401 上海市奉贤区环城北路168号南厂房三楼
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种光路中自带可通断红光的插回损检测装置,内部设置有第一半导体激光器、第二半导体激光器、第一光分路器、第二光分路器、第一光功率计、第二光功率计、650nm红光源及复用器,第一半导体激光器及第二半导体激光器分别与复用器相连通,复用器与第一光分路器相连,同时第一光分路器还与650nm红光源相连接,第二光分路器分别与第一光功率计及被检测器件相连,该发明实现了将红光与插回损检测一体化,实现红光可通断,在可利用红光的同时可完成插回损检测,只需将被测产品与仪表接口进行一次连接,即可完成红光检测和插回损检测应用,操作步骤简单,效率大幅提高,很大程度地降低了检测人员的劳动强度,方便插回损检测。