一种用于导电粒子检测的方法
基本信息
| 申请号 | CN201910081668.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109816653A | 公开（公告）日 | 2021-06-18 |
| 申请公布号 | CN109816653A | 申请公布日 | 2021-06-18 |
| 分类号 | G06T7/00;G06T7/13 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 吴林哲;胡远;翁桌荒 | 申请（专利权）人 | 宁波舜宇仪器有限公司 |
| 代理机构 | 北京谨诚君睿知识产权代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 陆鑫;延慧 |
| 地址 | 315400 浙江省宁波市余姚市舜宇路66-68号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种用于导电粒子检测的方法，包括：S1.获取待测图像，并提取所述待测图像上所有存在导电粒子的目标区域；S2.对所述待测图像上的所述目标区域进行滤波处理获取滤波图像；S3.遍历所述滤波图像，获取所有灰度值大于预设阈值的第一像素点；S4.提取一个所述第一像素点，并构建包含所述第一像素点的领域，遍历所述领域，判断所述领域内是否存在灰度值大于或等于所述第一像素点的第二像素点，若否，则存储当前所述第一像素点的坐标。本发明的方法通过对第一像素点的多次遍历，进一步提高了本发明的检测精度，尤其是对于识别检测重叠的导电粒子有利。 |
