飞针测试方法、飞针测试装置、飞针测试设备及存储介质

基本信息

申请号 CN201811204343.4 申请日 -
公开(公告)号 CN111060800B 公开(公告)日 2022-03-15
申请公布号 CN111060800B 申请公布日 2022-03-15
分类号 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 欧阳云轩;王星;翟学涛;杨朝辉;高云峰 申请(专利权)人 深圳市大族数控科技股份有限公司
代理机构 深圳市世联合知识产权代理有限公司 代理人 汪琳琳
地址 518000 广东省深圳市宝安区沙井街道新沙路安托山高科技工业园3#厂房五层、14#厂房一二层、17#厂房
法律状态 -

摘要

摘要 本申请属于PCB测试技术领域,涉及飞针测试方法、飞针测试装置、飞针测试设备及存储介质。该飞针测试方法包括:获取第一飞针测试文件的测试信息;根据所述第一飞针测试文件的测试信息显示PCB的零件面图像和焊锡面图像;获取第二飞针测试文件的测试信息;根据所述第二飞针测试文件的测试信息显示PCB的上模面图像和下模面图像;所述上模面图像对应于所述零件面图像,所述下模面图像对应于所述焊锡面图像;在所述焊锡面图像与所述下模面图像的方向不一致时,调整所述焊锡面图像或所述下模面图像,使得所述焊锡面图像与所述下模面图像的方向一致。本申请能够灵活使用各种格式的测试文件。