一种等离子体刻蚀残留物清洗液
基本信息
申请号 | CN201911407714.3 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113130292A | 公开(公告)日 | 2021-07-16 |
申请公布号 | CN113130292A | 申请公布日 | 2021-07-16 |
分类号 | H01L21/02(2006.01)I;H01L21/311(2006.01)I;C09K13/00(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 肖林成;刘兵;彭洪修;张维棚;赵鹏 | 申请(专利权)人 | 安集微电子科技(上海)股份有限公司 |
代理机构 | 北京大成律师事务所 | 代理人 | 李佳铭;王芳 |
地址 | 201201上海市浦东新区华东路5001号金桥出口加工区(南区)T6-9幢底层 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供一种等离子体刻蚀残留物清洗液,包括氧化剂、pH调节剂、稳定剂、有机酸铵盐、金属缓蚀剂、以及水。本发明提供了一种等离子体刻蚀残留物清洗液,可有效去除晶圆清洗过程中的等离子体刻蚀残留物,并且,在金属孔道中的残留物少;对氮化钛的刻蚀具有高选择性,能够高效去除氮化钛硬掩模;并且在高转速单片机清洗中对金属材料和非金属材料以及Low‑k介质材料均有较小的腐蚀速率;操作窗口较大;本申请的清洗液中不含氟,即使是小于14nm的晶圆也不会影响其电性能。 |
