光学透镜中心厚度的非接触式测量装置和测量方法
基本信息
| 申请号 | CN201710029634.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106840001B | 公开（公告）日 | 2019-02-01 |
| 申请公布号 | CN106840001B | 申请公布日 | 2019-02-01 |
| 分类号 | G01B11/06 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 杨宝喜;金超群;胡小邦;张方;马健;黄惠杰 | 申请（专利权）人 | 北京国望光学科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海恒慧知识产权代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所;北京国望光学科技有限公司 |
| 地址 | 201800 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种光学透镜中心厚度非接触式测量装置和测量方法，装置的构成包括低相干光干涉测量系统、主控计算机、图像传感器、准直器、分光镜、第一透镜、第二透镜、圆柱体自定心夹持架、二维水平调节台、二维连体平移台、第一平面镜、第二平面镜、第一二维调整架、第二二维调整架、安装架和支撑面板。本发明采用反射式中心偏调节方法，可实现透镜光轴与测量系统光轴的快速共轴调节，利用两个平面镜组成的腔式结构，可对未知材料折射率的透镜中心厚度进行非接触式的精确测量。 |
